2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[14a-A202-1~8] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2020年3月14日(土) 09:00 〜 11:00 A202 (6-202)

原 康祐(山梨大)

10:00 〜 10:15

[14a-A202-5] Si 基板上 B20 型 CoSi 薄膜の電子状態と熱電特性の関係

石部 貴史1、雛川 貴弘1、坂根 駿也1、佐藤 和則1、小林 英一2、藤田 武志3、中村 芳明1 (1.阪大院基礎工、2.九州シンクロトロン光研究センター、3.高知工科大)

キーワード:熱電材料、シリサイド、電子状態

Dirac, Weyl電子系を有する材料が、その特徴的電子状態を反映して高い出力因子を示すため、有望な熱電材料として期待されている。我々は、Dirac-likeな電子系を有する、Si材料系のe-CoSiに注目した。これまで、単一結晶相のe-CoSi薄膜をSi基板上に作製することには成功したが、その電子状態と熱電特性の関係については未解明であった。本研究では、e-CoSi薄膜/Siの電子状態を分析し、熱電特性に与える影響を明らかにすることを目的とする。