[14a-B508-1~11] 7.1 X線技術

[14a-B508-3] CMOSイメージセンサを用いた広帯域X線撮像分光検出器の開発

〇平賀 純子¹、鎌田 恭彰¹、由比 大斗¹、吉田 将之¹、卜部 夕希乃¹、中嶋 大² (1.関西学院理工、2.関東学院理工)

キーワード：CMOSイメージセンサ、X線フォトンカウンティング

近年、可視光用CMOSイメージセンサの低ノイズ化が実現し、従来のCCDに代わる科学衛星搭載用のX線撮像分光検出器として、複数の宇宙ミッションでの採用が検討されている。本研究では、画素サイズ6.5μm×6.5μm 表面照射型CMOSイメージセンサを用いて、X線に対する分光性能評価を行った。結果、エネルギー分解能はΔE/E~ 3%@22keV であり、また1.5keVから25keVの広帯域で撮像分光が可能であることが示された。