[14p-B409-1~15] 3.8 光計測技術・機器

[14p-B409-5] Si単結晶球体積測定のための40 GHz連続精密レーザー周波数掃引

〇大久保 章¹、倉本 直樹¹、稲場 肇¹ (1.産総研)

キーワード：レーザー周波数制御、第2次高調波発生

新しいキログラム定義に基づいた高精度な質量測定実現のために、より高い精度でのSi単結晶球の体積測定が求められている。そのためには、これまで用いられてきた波長633 nmより短い波長で数10 GHzの連続掃引が可能な精密広帯域周波数可変レーザーシステムが必要となる。本研究では、EOMで発生したスレーブレーザーのサイドバンドをマスターレーザーに位相同期することで、波長426 nmにおいて40 GHzにわたる連続精密周波数掃引を実現した。