11:00 〜 12:40 [23a-P10-11] GaN/SiO2界面におけるホールトラップ準位計算 〇辻 英徳1、大内 祐貴1、上野 勝典1、高島 信也1、田中 亮1、江戸 雅晴1 (1.富士電機)