[10a-N106-1~10] 3.8 光計測技術・機器

[10a-N106-5] K-K解析によるSD-OCTを用いた多層構造空間分解複素電界分光法

〇梶山 貴弘¹、塩田 達俊¹ (1.埼大理工)

キーワード：OCT

光干渉断層計は，その非侵襲性を生かすことで生体分野のみならず産業分野に応用する研究が進められている．これまで，我々は断層画像から試料深さ構造毎の分光を行うトモグラフィック分光法や複素屈折率と厚さを分離して計測する手法の提案を行った．本稿では，積層試料においても計測できる算出式を報告する．実証実験として単層試料を用意し各パラメータの算出と，反射スペクトルから試料の表面色（反射物体色）の再現を行った．