[10a-N107-1~12] 3.6 超高速・高強度レーザー

△ [10a-N107-8] デュアルコム・サニャック干渉計による定量変位計測

〇岩崎 綾華¹、岡野 真人¹、渡邉 紳一¹ (1.慶応理工)

キーワード：デュアルコム分光法、測距、光周波数コム

近年、超短パルスレーザーを用いた距離測定（測距）が注目を集めている。特にデュアルコム分光法を用いると、飛行時間計測結果と光干渉計測結果をつなぐことでナノメートルまでの距離測定が可能となる。今回、我々は、このようなデュアルコム測距の測定可能範囲を広げるために、サニャック干渉計を用いたデュアルコム計測装置を構築し、10 ピコメートルオーダーの微小変位を定量的に計測することに成功したので報告する。