[10a-N402-1~9] CS.1 2.3 加速器質量分析・加速器ビーム分析、7.5 イオンビーム一般のコードシェアセッション

[10a-N402-8] クラスターSIMSにおけるフラグメントイオン強度の1分子当たりエネルギー依存性

〇水畑 健¹、盛谷 浩右¹、中村 知道²、乾 徳夫¹ (1.兵庫県立大院工、2.兵庫県立大院シミュ)

キーワード：イオンビーム、二次イオン質量分析、SIMS

サイズを選別した(Ar)n+および(D2O)n+クラスターを一次イオンとして、ニトロベンジルピリジニウム塩（NBP）の二次イオン質量分析（SIMS）測定を行った。スペクトル中に現れるフラグメントイオンは一次イオンの1分子あたりエネルギー(E/n)に依存して変化することがわかった。二次イオン強度のE/n依存の類似性から、その物理化学的意味について検討する。