[11p-N323-1~13] 12.2 評価・基礎物性

[11p-N323-10] アルキルフタロシアニン塗布薄膜の界面物性における置換基長依存性

〇正能 拓馬¹、田渊 大地¹、藤井 彰彦¹、尾﨑 雅則¹ (1.阪大院工)

キーワード：有機半導体、ケルビンプローブフォース顕微鏡、表面電位

有機半導体塗布薄膜と電極材料の界面物性の解明を目的とし、n-Si基板上のアルキルフタロシアニン塗布薄膜について、ケルビンプローブフォース顕微鏡観察を行った。表面電位差は膜厚に依存して変化し、基板界面近傍において置換基長の異なる材料を比較すると変化の大きさに違いを示した。置換基長が短くなると、π共役の発達した材料のコア部と基板の距離が近くなり、界面双極子による効果が大きくなるためと考えられる。