Attempt time determined in stochastic magnetic tunnel junctions

Keisuke Hayakawa; Shun Kanai; Keito Kobayashi; William Borders; Junta Igarashi; Butsurin Jinnai; Hideo Ohno; Shunsuke Fukami

講演情報

一般セッション(口頭講演)

10 スピントロニクス・マグネティクス » 10.3 スピンデバイス・磁気メモリ・ストレージ技術

[12a-S302-1~7] 10.3 スピンデバイス・磁気メモリ・ストレージ技術

2021年9月12日(日) 09:00 〜 10:45 S302 (口頭)

伊藤啓太(東北大)

09:30 〜 09:45

▼ [12a-S302-3] Attempt time determined in stochastic magnetic tunnel junctions

〇(M2)Keisuke Hayakawa^1,2、Shun Kanai^1,3,4,5、Keito Kobayashi^1,2、William Borders^1,2、Junta Igarashi^1,2、Butsurin Jinnai⁶、Hideo Ohno^1,2,3,5,6,7、Shunsuke Fukami^1,2,3,5,6,7 (1.RIEC, Tohoku Univ.、2.Graduate School of Engineering, Tohoku Univ.、3.CSRN, Tohoku Univ.、4.DEFS, Tohoku Univ.、5.CSIS, Tohoku Univ.、6.WPI-AIMR, Tohoku Univ.、7.CIES, Tohoku Univ.)

キーワード：magnetic tunnel junction, probabilistic computing, random telegraph noise