[20a-C202-1~11] 15.7 結晶評価，不純物・結晶欠陥

[20a-C202-5] 明視野X線トポグラフィによるZnO基板中転位の同定

〇浪岡 祐輔¹、伊藤 優輔¹、早瀬 大貴¹、太田 優一²、津坂 佳幸¹ (1.兵県大院物質理学、2.都産技研)

キーワード：X線、トポグラフィ