[20a-M206-1~10] FS.1 フォーカストセッション「AIエレクトロニクス」

[20a-M206-9] 書き込みエラー率分布を考慮した不揮発メインメモリシステムによるビット化け発生数の評価

〇荒井 礼子¹、斉藤 大貴²、佐藤 幸紀²、広渕 崇宏³、今村 裕志¹ (1.産総研新原理、2.豊橋技科大 情報・知能工学、3.産総研デジアキ)

キーワード：不揮発メモリ、書き込みエラー率、メインメモリシミュレーション

書き込みエラー率(WER)の高いメモリ素子を許容したメモリシステム実現にむけて、アプリケーション動作時におけるエラーの影響を調べるため、WER分布を考慮したメモリシステムレベルシミュレーションによりメモリアクセスおよびビット化け発生回数について調べた