[21a-A202-1~7] 3.8 テラヘルツ全般（旧3.9）

[21a-A202-4] 偏光変調電気光学サンプリング法によるマルチテラヘルツ電場ベクトルの時間領域計測

〇神田 夏輝^1,2、中川 真由莉¹、松永 隆佑^1,2 (1.東大物性研、2.JSTさきがけ)

キーワード：テラヘルツ、偏光計測、時間領域分光

周波数が数十THzのマルチテラヘルツ帯での時間領域分光において、電気光学サンプリングの近赤外ゲート光に偏光変調を施すことで、マルチテラヘルツパルスの電場ベクトルの向きと大きさを同時に決定する計測手法を開発した。本手法では偏光素子の帯域の制限を受けない測定が可能であり、赤外域での円二色性測定や、時間領域分光の特徴を生かした時間分解ホール伝導度測定などに活用できると期待できる。