[22p-B104-1~14] 12.4 有機EL・トランジスタ

[22p-B104-5] 変位電流とPL強度の同時測定による電荷蓄積挙動および励起子消光特性評価

二宮 海斗¹、佐藤 克哉²、〇野口 裕^1,2 (1.明治大院理工、2.明治大理工)

キーワード：電荷蓄積、励起子消光、変位電流測定

有機EL素子界面の電荷蓄積は、励起子消光（EPQ）や素子劣化の要因となる。したがって、界面における電荷蓄積挙動とEPQの相関を正確に理解し制御することは、素子特性向上に向け重要な課題となる。本研究では、有機EL素子界面の電荷蓄積挙動とEPQとの相関を解析する手法として変位電流とPL強度の同時測定法（DCM-PL）を提案し、Ir(ppy)₃を発光材料に用いたモデル素子に適用した結果を報告する。