[22p-C106-1~16] 12.2 評価・基礎物性

△ [22p-C106-7] 走査トンネル顕微法/分光法による電子線誘起C₆₀重合体の分子スケール評価

〇(M2)和泉 竜馬¹、中谷 真人¹、尾上 順¹ (1.名大院工)

キーワード：フラーレン、STM、有機エレクトロニクス

C₆₀薄膜へ電子線を照射すると電気抵抗率が大きく減少することが知られており、その導電性制御を利用した有機エレクトロニクスの開発が期待されている。本研究では、電子線照射による導電性の変化について詳しく理解するため、走査トンネル顕微鏡/分光法（STM/STS）を用いて電子線照射C₆₀薄膜の分子スケール観察と電子構造評価を行ったので報告する。