[22p-C302-1~17] 3.7 光計測技術・機器（旧3.8）

△ [22p-C302-1] 周波数制御された光コムによる背景信号除去手法を用いた断層計測

〇(B)日野 圭人¹、加藤 峰士^1,2、猫島 靖久¹、美濃島 薫¹ (1.電通大、2.JST,さきがけ)

キーワード：光周波数コム、干渉計測

超短パルスを利用した干渉計測は非線形光学や時間・空間選択性を活用することで高機能計測が可能となる。しかし、一般に構造計測や断層計測などにおいては目的の信号光は微弱であり、強い表面反射背景光による検出器飽和によって生じるダイナミックレンジ低下が課題となる。本研究では、光コムのキャリアエンベロープ位相制御を活用して、逆位相パルスの干渉による広帯域背景光除去手法を開発し、実際に断層計測への適用を行った。