14:30 〜 14:45
[23p-B203-5] 4層WSe2のサブバンド間共鳴トンネルにおけるツイスト角度依存性
キーワード:共鳴トンネル、TMD、ツイスト
本研究では、4層WSe2/数層h-BN/4層WSe2のトンネル接合で、WSe2間のツイスト角度が0・30・60度のデバイスのI-V特性を比較した。
WSe2にホールを蓄積させてI-V特性を測定すると複数の共鳴トンネルピークが現れ、ピーク位置にツイスト角度依存性は無かった。一方、WSe2に電子を蓄積させた場合、ツイスト角度によって共鳴ピークの位置は大きく異なっていた。これは、電子側のサブバンドがQ点(Γ点とK点の間)にあることに起因すると考えられる。
WSe2にホールを蓄積させてI-V特性を測定すると複数の共鳴トンネルピークが現れ、ピーク位置にツイスト角度依存性は無かった。一方、WSe2に電子を蓄積させた場合、ツイスト角度によって共鳴ピークの位置は大きく異なっていた。これは、電子側のサブバンドがQ点(Γ点とK点の間)にあることに起因すると考えられる。