2022年第69回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

1 応用物理学一般 » 1.5 計測技術・計測標準

[24p-D113-1~17] 1.5 計測技術・計測標準

2022年3月24日(木) 13:00 〜 18:00 D113 (D113)

寺崎 正(産総研)

16:30 〜 16:45

[24p-D113-13] 複数ファイバを用いた後方光散乱の測定

〇勝亦 徹1,2、荻谷 美沙希1、鍵谷 佳樹1、前田 浩太郎1、相沢 宏明1、松元 健3 (1.東洋大理工、2.東洋大工技研、3.マツモト精密㈱)

キーワード:後方光散乱、複数ファイバ、食品

光散乱を使った迅速な非破壊検査法のために、複数の光ファイバを使って後方光散乱特性の光ファイバの位置による変化を評価した。