[24p-E202-1~8] 7.1 X線技術

[24p-E202-8] 大容量キャパシタの局所的反応分布のoperando計測

〇高野 皓大¹、鈴木 宏輔¹、星 和志¹、石本 修一²、花輪 洋宇²、辻 成希³、櫻井 浩¹ (1.群馬大理工、2.日本ケミ、3.高輝度光研)

キーワード：コンプトン散乱X線、キャパシタ

キャパシタに生じる電極内の充放電反応分布の発生要因を、コンプトン散乱法を用いてオペランドで測定を行った。充放電サイクルの経過により、電極の位置によってコンプトン散乱Ｘ線強度の変化に違いが生じた。これは電極の膨張あるいは収縮が顕著であることを示唆しており、電極内の反応分布に関連すると考えられる。本報告では、さまざまな条件での結果を報告する。