2022年第69回応用物理学会春季学術講演会

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一般セッション(口頭講演)

CS コードシェアセッション » 【CS.1】 2.3 加速器質量分析・加速器ビーム分析、7.5 イオンビーム一般のコードシェアセッション

[24p-F308-1~11] CS.1 2.3 加速器質量分析・加速器ビーム分析、7.5 イオンビーム一般のコードシェアセッション

2022年3月24日(木) 13:30 〜 16:30 F308 (F308)

豊田 紀章(兵庫県立大)、盛谷 浩右(兵庫県立大)

15:15 〜 15:30

[24p-F308-7] EMIM-BF4 multi-ion sources of micromachined Si external wetted emitters with fluidic feeding-flow confinement: from microfabrication to Si etching evaluation

〇VANMINH LE1、NGUYEN VAN CHINH1、HIROKI KUWANO1,2 (1.Tohoku University、2.Sendai Smart Machines)

キーワード:Ionic liquid ion source, ion source, micro/nano fabrication

In this research, we developed micromachined multi-ion sources (multi-IS) for generating fluorine-based ions from ionic liquid EMIM-BF4. The multi-IS consisted of 10 x 10 Si micro-emitters using Si micromachining. Each emitter was surrounded by four-segmented annular micro-fluidic channels of 10 mm in width. The ion emission evaluation confirmed that the fabricated EMIM-BF4 ISs were consistent with the exponential charge transport model. Si etching investigation showed the maximum etching yield of 17 atoms per ion was achieved.