[25a-E205-1~9] 12.1 作製・構造制御

△ [25a-E205-7] In-situ微小角入射小角X線散乱法を用いた塗布型π共役高分子の薄膜形成ダイナミクスの検討Ⅱ

〇籔内 湧太¹、蓑輪 裕¹、永松 秀一²、藤井 彰彦¹、尾﨑 雅則¹ (1.阪大院工、2.九工大情報工)

キーワード：ドナー・アクセプタ型共役高分子、液中凝集、小角X線散乱法

動的な微小角入射小角X線散乱法によりπ共役高分子の薄膜形成ダイナミクスを検討した．薄膜が形成され始めると高分子の構造に由来する回折ピークが現れ，時間とともに回折強度が増加するとともにピーク位置が広角側にシフトした．ピークの半値幅の変化を解析し，高分子の液中凝集体が基板上へ堆積するまでの間に分子配向状態が決定され，その後，薄膜の乾燥ともに凝集体内部の高分子鎖間隔が時間をかけて縮小することが分かった．