[25a-F308-1~4] CS.1 2.3 加速器質量分析・加速器ビーム分析、7.5 イオンビーム一般のコードシェアセッション

[25a-F308-2] SIMS分析を用いた重イオンビームによる生体分子損傷の入射粒子依存性

本郷 瑞樹¹、〇土田 秀次¹、手塚 智哉¹、間嶋 拓也¹、斉藤 学¹ (1.京大院工)

キーワード：生体分子損傷、重イオンビーム、二次イオン質量分析

MeVのイオンビームによる生体分子損傷の入射粒子依存性を調べた。ヌクレオチド構造を持つウリジン一リン酸（UMP）の標的を、MeV領域のヘリウム、炭素、酸素イオンビームで照射し、標的から放出した正の二次イオンを測定した。二次イオン質量スペクトルからヌクレオチド分子の損傷箇所を調べた結果、入射イオンが重イオンになるほど、UMPのリン酸基の損傷が顕著になることが分かった。