[25p-F308-1~10] CS.1 Code-sharing Session of 2.3 & 7.5

[25p-F308-7] Development of in-situ Evaluation Method of Surface Stripper for Downsizing of AMS System

〇Satoshi Jinno¹, Akihiro Matsubara¹, Natsuko Fujita¹, Kenji Kimura¹ (1.JAEA)

Keywords:AMS, surface stripper

筆者らは表面ストリッパーを利用した炭素-14専用小型AMSを開発している。原理実証に向け、炭素負イオンの表面ストリッパー通過後の電荷分布や散乱角度広がりを評価するとともに、数値計算の結果と比較する。また、イオンの散乱角と二次電子放出量の相関関係を明らかにするために、結晶表面からの二次電子放出量を計測するための検出器を設計した。この装置を用いて、結晶表面の健全性を評価することを計画している。