13:30 〜 13:45 △ [16p-B414-3] 走査型非線形誘電率顕微鏡によるSiO2上機械剥離MoS2の局所DLTS測定 〇石塚 太陽1,2、山末 耕平2 (1.東北大院工、2.東北大通研)