2023年第70回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

12 有機分子・バイオエレクトロニクス » 12.2 評価・基礎物性

[15p-B508-1~18] 12.2 評価・基礎物性

2023年3月15日(水) 13:00 〜 18:00 B508 (2号館)

山田 豊和(千葉大)、宮前 孝行(千葉大)、田中 裕也(東工大)

15:30 〜 15:45

[15p-B508-10] 単分子接合の接続構造に起因するSERS強度blinking現象の観測

〇(M1)本間 寛治1、金子 哲1、塚越 一仁2、西野 智昭1 (1.東工大理、2.物材研MANA)

キーワード:単分子接合、表面増強ラマン散乱(SERS)

表面増強ラマン散乱(SERS)計測時に観測されるblinkingは、通常のラマン散乱とは異なるラマン散乱強度の増強が起こるため、その原因の解明は学術的に意義深い。本研究では2,6-Naphthalenedithiol(NDT)の単分子接合を作製し、電流-電圧特性とSERSスペクトルの同時計測を行うことで、単一分子の接続状態がSERS強度変化に与える影響について検討した。その結果、NDT単分子接合におけるblinking現象中における強度変化は結合状態の変化が起因していることを見出した。