[15p-B508-1~18] 12.2 評価・基礎物性

[15p-B508-17] 静電気力顕微鏡法によるフッ素含有自己組織化単分子膜の
表面電位ダイナミクスの検出

〇(M2)三島 直也¹、山田 剛司¹、大山 浩¹、安藤 直紀²、家 裕隆²、松本 卓也¹ (1.阪大院理、2.阪大産研)

キーワード：有機薄膜、自己組織化単分子膜、原子間力顕微鏡

有機エレクトロニクス分野では、単一種の分子で構成された自己組織化膜(SAM)に関する研究が多く報告され、デバイス動作中における分子膜中の構造変化や電荷移動が注目されている。そこで本研究ではフッ素が持つ非線形特性に着目し、静電気力顕微鏡法(EFM)により表面電位ダイナミクスを検出した。