[15p-PB01-1~5] 3.8 テラヘルツ全般（旧3.9）

[15p-PB01-5] 廉価版sub-THz分光器の電磁波集光部測定による屈折率の補正

〇森川 治¹、服部 あい¹、山本 晃司²、栗原 一嘉²、古屋 岳²、桒島 史欣³、北原 英明²、谷 正彦² (1.海保大、2.福井大、3.福井工大)

キーワード：テラヘルツ時間領域分光法、集光、屈折率

テラヘルツ時間領域分光システムで試料を電磁波集光部に配置すると､平行光束部に試料を配置する場合よりも得られる屈折率の値が若干大きくなる。従来の補正法では試料が光学的に薄いこと､試料挿入によるビームウェスト移動やレイリー長が集光光学系の焦点距離よりも十分小さいことが仮定されていた。そこで今回､ビームウェスト径の測定値とビームの複素パラメータの直接計算によりこれらの仮定を回避できる計算法を提案する。