[16a-D405-1~8] 6.6 Probe Microscopy

[16a-D405-1] [The 7th Thin Film and Surface Physics Division Paper Award Speech] Low-Background Tip-Enhanced Raman Spectroscopy Enabled by a Plasmon Thin-Film Waveguide Probe

〇Kaifeng Zhang^1,4, Yifan Bao², Maofeng Cao², Shin-ichi Taniguchi¹, Masahiro Watanabe¹, Takuya Kambayashi¹, Toshihiro Okamoto³, Masanobu Haraguchi³, Xiang Wang², Kei Kobayashi⁴, Hirofumi Yamada⁴, Bin Ren², Takehiro Tachizaki⁵ (1.Hitachi R&D, 2.Xiamen Univ., 3.Tokushima Univ., 4.Kyoto Univ., 5.Tokai Univ.)

Keywords:TERS, SPM, Raman

一般的な探針増強ラマン分光法（TERS）では，励起光の照射領域は探針先端部よりはるかに大きく，探針直下以外からのラマン光や蛍光(背景信号)を発生させる．局所TERS信号よりも強いため，測定感度・解像度低下の原因となる．そこで，プラズモン薄膜導波路を用いた低バックグラウンド TERSを新たに開発した．背景信号を極限的に抑圧することができ，蛍光及び強いラマン活性を示すバルクダイヤモンド試料の表面において，増強因子(Enhanced Factor: EF)が10⁴に達成したTERS測定に成功した．開発したプラズモン薄膜導波路プローブによるTERSは試料の制約が少ないため，多様な環境下での TERS 測定への展開が期待でき，TERS 技術のさらなる普及と発展に寄与すると考える．