[17a-A502-1~8] 3.7 光計測技術・機器（旧3.8）

[17a-A502-1] サブビンによるスペクトル測定のSD-OCT 応用への基礎検討

〇(B)川田 晃平¹、増田 純平¹、小坂 哲夫¹、佐藤 学¹ (1.山形大工)

キーワード：DFT、sub-bin、分解能

我々は、サブビンを用いたスペクトル測定の高分解能化を検討しており、今回、SD-OCTへの応用を試みたので報告する。波長0.8µmのSLD用いたマイケル干渉系において干渉スペクトルを測定し、サブビンを用いて処理した。データ数256において、従来のDFTのビン間隔内の周波数に光路差を合わせた場合、構造情報は得られなかったが、本提案の処理では、構造情報を引き出せた。しかし、精度向上が今後の課題である。