[17a-E502-1~13] 7.1 X線技術

[17a-E502-3] ベイズ超解像を用いたX線光電子分光測定の高速化

〇原田 俊太¹、辻森 皓太¹、野本 豊和²、伊藤 孝寛¹ (1.名大、2.あいち産科技センター)

キーワード：X線光電子分光法、ベイズ超解像

ベイズ超解像をX線光電子分光測定に応用し、低い解像度のデータを所得することにより測定時間を短縮し、超解像により目標とする解像度に向上させることで、測定の高速化を実現した。