スケジュール 19 いいね! 0 コメント (0) 15:20 〜 15:30 [I-204] UAVとSfMを活用したひび割れ幅測定に及ぼす写真ラップ率の影響 *本多 雅匠1、森田 千尋1、安井 賢太郎2、出水 享3 (1. 宮崎大学、2. 鹿児島工業高等専門学校、3. 長崎大学) キーワード:UAV、SfM、ひび割れ幅測定、3Dモデル、点検、写真重複割合 要旨・抄録、PDFの閲覧には参加者用アカウントでのログインが必要です。参加者ログイン後に閲覧・ダウンロードできます。 » 参加者用ログイン