11:30 〜 11:40
[I-264] 渦電流探傷試験による塗膜下に進展する疲労き裂検出技術に関する研究
キーワード：渦電流探傷試験、塗膜割れ、疲労き裂検出
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講演情報
第I部門
非破壊評価
2022年9月16日(金) 11:10 〜 12:30 I-3 (吉田南４号館 ４共１２)
座長：鈴木 啓悟（福井大学）