スケジュール 5 いいね! 0 コメント (0) 12:00 〜 12:10 [I-267] IoTを用いたひずみ計測による疲労き裂の検出法の開発 *松本 直樹1、石川 敏之1、公門 和樹2 (1. 関西大学、2. 京橋ブリッジ株式会社) キーワード:LPWA、モニタリング、平均ひずみ、残留応力、疲労試験 要旨・抄録、PDFの閲覧には参加者用アカウントでのログインが必要です。参加者ログイン後に閲覧・ダウンロードできます。 » 参加者用ログイン