[2Aa01-14] データ駆動表面科学研究部会「データ駆動アプローチ研究の最近の動向」

[2Aa12S] 有機EL材料のTOF-SIMSデータにおける情報エントロピーを用いた解析

*溝道 桂介¹、三井所 亜子²、青柳 里果¹ (1. 成蹊大学理工学部、2. 株式会社コベルコ科研)

本研究では飛行時間形二次イオン質量分析法（TOF-SIMS）スペクトルの情報エントロピーから、どのような情報が得られるか基礎検討した。情報エントロピーをTOF-SIMSスペクトルに応用すると、特定の二次イオンを選ばずにTOF-SIMSデータの概要が評価できる。また、スペクトルの情報エントロピーを新たな変数としてTOF-SIMSデータに加えた上で、主成分分析を適用した解析を試みた。