Characterizing the time resolved properties and structure of atomic scale defects using AFM techniques

講演情報

Oral Session

D. Frontiers of Advanced Electronic Materials » [D-3] Defect Functionalized Energy and Electronic Materials

[D3-O6] Slot 06

2021年12月15日(水) 09:00 〜 11:00 Room Q (G318)

Chair: Kirk H. Bevan (McGill University), Naoki Ohashi (NIMS)

09:55 〜 10:25

*Peter Grutter¹ (1. McGill Univ. (Canada))

キーワード：AFM, EFM, pump-probe, non-linear optics, fs time resolution, vacancies

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