[27p-F2-1~15] 6.3 酸化物エレクトロニクス

[27p-F2-3] △NiO-ReRAMにおけるメモリ特性の雰囲気依存性 (2:00 PM ～ 2:15 PM)

^○緒方涼介¹，木下健太郎^1,2，吉原幹貴¹，岸田悟^1,2 (鳥取大工¹，TEDREC²)

キーワード：NiO、ReRAM、雰囲気依存性