2015年 第76回応用物理学会秋季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[16a-2U-1~12] 6.6 プローブ顕微鏡

6.6と12.2のコードシェアセッションあり

2015年9月16日(水) 09:00 〜 12:15 2U (233)

座長:一井 崇(京大),小林 圭(京大)

11:30 〜 11:45

[16a-2U-10] 原子間力顕微鏡を用いた誘電緩和計測

〇影島 賢巳1 (1.関西医大物理)

キーワード:原子間力顕微鏡、誘電緩和、高分子薄膜

代表的な動的物性計測法である誘電緩和応答計測の、原子間力顕微鏡(AFM)との複合を試みた。試料と絶縁性の探針をともに交番電場内に置き、カンチレバーの周波数シフト信号中の電場周波数成分を検出しながら電場周波数を掃引し、誘電応答関数の実部と虚部を算出した。ポリビニルアセテート(PVAc)とポリスチレン(PS)の相分離膜試料で、PVAcに特有な誘電応答を観測した。得られたスペクトルの関数形や空間分解能について議論する予定である。