2019年第66回応用物理学会春季学術講演会

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13 半導体 » 13.2 探索的材料物性・基礎物性

[10a-PB2-1~18] 13.2 探索的材料物性・基礎物性

2019年3月10日(日) 09:30 〜 11:30 PB2 (武道場)

09:30 〜 11:30

[10a-PB2-9] ポストアニール条件がBaSi2薄膜のキャリア密度に与える影響

木村 裕希1、藤原 道信1、中川 慶彦1、後藤 和泰1、黒川 康良1、宇佐美 徳隆1 (1.名大院工)

キーワード:シリサイド

BaSi2は、高い光吸収係数と、単接合太陽電池の吸収層として理想的な1.4 eVに近いバンドギャップをもつため薄膜太陽電池材料として注目されている。BaSi2の太陽電池応用のためにはキャリア密度を制御することが必要である。本研究では真空蒸着法により作製したアンドープBaSi2薄膜のキャリア密度にポストアニール時のカバー物質が与える影響を調査した。ポストアニール温度900℃においてカバー物質に依存して伝導型が変化することが確認された。