2020年第67回応用物理学会春季学術講演会

講演情報

一般セッション(口頭講演)

6 薄膜・表面 » 6.6 プローブ顕微鏡

[13p-D519-1~12] 6.6 プローブ顕微鏡

2020年3月13日(金) 13:45 〜 17:00 D519 (11-519)

杉本 宜昭(東大)、山田 豊和(千葉大)

16:15 〜 16:30

[13p-D519-10] 放射光STMを用いた内殻励起に伴う局所信号及び放出電子特性の精密評価

増百 寛之1,2、齋藤 彰1,2、藤井 和真1,2、藤原 雅樹1,2、玉作 賢治2、石川 哲也2、桑原 裕司1,2 (1.阪大院工、2.理研/SPring-8)

キーワード:放射光、走査型トンネル顕微鏡

我々はSTMとシンクロトロン放射光を組み合わせ、実空間・ナノスケール の表面分析が可能な放射光STMを開発してきた。しかし従来の手法では放出電子の影響により、安定な測定が困難であった。そこで近年の測定法改良により、S/N比改善に伴うトンネル信号抽出に成功した。本発表では、Cu/Ge(111)界面の元素識別と分析の鍵になるノイズ成分について、測定条件(入射光とSTM)への 依存性を中心に報告する。