Ｘ線小角散乱法によるジルコニウム水酸化物沈殿の評価

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[2D03] Ｘ線小角散乱法によるジルコニウム水酸化物沈殿の評価

*中嶋翔梧¹、小林大志¹、元川竜平²、佐々木隆之¹ (1.京都大学大学院工学研究科原子核工学専攻、2.日本原子力開発機構)

キーワード：X線小角散乱(SAXS)、ジルコニウム水酸化物、沈殿、粒径

25℃，40℃，60℃および90℃の温度条件で熟成した4価ジルコニウム水酸化物沈殿をX線小角散乱（SAXS）法で測定した．得られた散乱データから粒径や表面形状など水酸化物沈殿の固相状態を明らかにし，見かけの溶解度の解釈を試みた．