[2N10-16] Accelerator for material and device analysis

[2N11] Development of Apparatus for the Radiation Resistance Test of Semiconductor Devices in Space Using Low-LET Accelerated Particles

*Kimikazu Sasa¹, Masao Sataka¹, Hiroshi Naramoto¹, Hiroshi Kudo¹ (1.Univ. of Tsukuba)

Keywords:Radiation-resistant test, Tandem accelerator, Semiconductor device, Space equipment, LET, Reactor decommissioning

筑波大学6 MVタンデム加速器では、多種の重イオンを幅広いエネルギー範囲で提供可能である。最近、宇宙用機器や原子力施設・廃炉作業等で使用する機器に搭載する民生用半導体部品について、放射線耐性試験の需要が高まりつつある。放射線環境におけるデバイスのシングルイベント発生頻度は、LETの低い数10 MeV/(mg/cm²)以下の領域に閾値があり、タンデム加速器による加速粒子エネルギー範囲と一致する。本発表では、筑波大学において開発を行なった宇宙用素子照射装置の概要を報告する。