[2G07-10] Fundamental Properties/Advanced Fuels

[2G08] Structure of ion tracks and microstructure evolution in fluorite-type oxide

(2)Dependence on electronic stopping power

＊Taisei Nagaishi¹, Seiya Takaki¹, Kazuhiro Yasuda², Syo Matsumura², Norito Ishikawa³ (1.Kyushu University, 2.Kyushu University Faculty of Engineering, 3.Nuclear Science and Engineering Center)

Keywords:Oxides with fluorite type structure , Electronic excitation damage , Ion track, TEM

本研究では200 MeV Xeイオンと比べて電子的阻止能の値が小さい100 MeV Krイオンを照射したCeO₂中のイオントラック構造を透過型電子顕微鏡法を用いて観察し、イオントラック構造と蓄積過程の電子的阻止能依存性を明らかにすることを目的とした。イオントラックはフォーカス条件によって白黒反転するフレネルコントラストとして観察された。100 MeV Krを照射したCeO₂においてイオントラックの直径は照射量に依存せず約1.3 nmであった。イオントラック面密度は低照射量域では線形的に増加しているが、高照射量域では飽和していた。このようなイオントラック蓄積過程を考えるために、イオントラックの形成確率を考えたモデルを仮定し、フィッティングを行った。その結果、回復影響領域とイオントラック形成確率が求められ、電子的阻止能の減少に伴ってそれらは減少することが分かった。