2016 Annual Meeting

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Oral Presentation

II. Radiation, Accelerator and Beam Technologies » 203-1. Accelerator and Beam Acceleration Technology

[2M06-09] Ion beam, ion source

Sun. Mar 27, 2016 10:50 AM - 11:55 AM Room M (Lecture Rooms C C106)

Chair: Kimikazu Sasa (Univ. of Tsukuba)

11:05 AM - 11:20 AM

[2M07] Development of a High Flux Negative Fullerene Ion Source for Tandem Accelerators

*Eisuke Baba1, Koshiro Nakamura1, Jun Hasegawa1, Atsuya Chiba2, aya Usui2, Katsunori Kawasaki3 (1.Department of Energy Sciences, Tokyo Institute of Technology , 2.Takasaki Advanced Radiation Research Institute, Japan Atomic Energy Agency, 3.Electrostatic Accelerator Laboratory)

Keywords:Fullerene, Cluster, Tandem accelerator, Sublimation, Electron attachment

フラーレンイオンをタンデム加速器で加速する際,ストリッパーガスによるフラーレンの破砕に伴うビーム電流値の減少は避けられない.本研究の目的は,タンデム加速器下流で得られるフラーレンビーム電流値の増大を目指し,マイクロアンペア級のフラーレン負イオンを供給可能な高フラックスフラーレン負イオン源の試験装置を開発し,イオン源の設計パラメータがビーム特性に及ぼす影響を明らかにすることである.フラーレン負イオン源として,昇華・電子付着方式を採用し,るつぼ温度とノズル形状に対するフラーレン中性ビームのフラックス量や発散角の依存性を調べた.また,電子付着部にソレノイドガイド磁場を適用し,電子密度の増大によるイオン化効率の改善を試みた.生成されたフラーレン負イオンを静電アナライザにより分析し,るつぼ温度や電子のエネルギーが負イオン質量分布に与える影響について検討を行った.