2016年春の年会

講演情報

一般セッション

II. 放射線工学と加速器・ビーム科学 » 203-2. ビーム計測/203-4 放射光,レーザー

[3M01-06] ビーム計測

2016年3月28日(月) 10:15 〜 11:55 M会場 (講義棟C棟 C106)

座長:瓜谷 章(名大)

11:15 〜 11:30

[3M05] RBS法によるナノ構造Pd多層薄膜上の重元素分析

*岩村 康弘1、笠木 治郎太1、鶴我 薫典2、伊藤 岳彦1、菊永 英寿1、田島 龍1、本多 佑記1 (1.東北大学 電子光理学研究センター、2.三菱重工業(株))

キーワード:RBS法、ナノ構造Pd多層膜

ナノ構造Pd多層薄膜上の質量数130以上の重元素をRBS法により初めて分析した。この薄膜には予めCs等の元素を添加に重水素を透過させた後にPrが検出された薄膜である。今後の詳細な検証が必要ではあるが、ICP-MSで計測されたPrがRBS法によっても確認され、さらに別の元素が検出された可能性がある。