[3N01-04] Ultra-fast Measurement and Pulse Radiolysis

[3N02] MeV electron microscopy using RF electron gun

*Jinfeng Yang¹, Yoichi Yoshida¹, Katsumi animura^1,2, Hidehiro Yasuda² (1. ISIR, 2. UHVEM)

Keywords:Electron microscopy, RF electron gun, Femtosecond electron pulse, Beam application

物質の構造変化ダイナミクスや構造相転移現象の観察は、新しい物質の創製・機能の発見に非常に重要である。本研究では、RF電子銃からフェムト秒超短電子線パルスを発生し、これを用いたMeV電子顕微鏡の開発を推進している。本大会では、RF電子銃を用いて高速電子顕微鏡の開発現状、電子線パルスの発生からMeV電子ビームによるイメージング実験までの結果について報告する。