[2B10-13] 放射線（能）測定

[2B11] 蛍光飛跡検出器(FNTD)の粒子飛跡読取りにおけるX/γ線照射の影響

*橋詰 拓弥^1,2、岡崎 徹¹、佐波 俊哉^2,3、萩原 雅之^2,3、文珠四郎 秀昭^2,3、林 裕晃⁴、小林 育夫¹ (1. 長瀬ランダウア(株)、2. 総合研究大学院大学、3. 高エネルギー加速器研究機構、4. 徳島大学)

キーワード：蛍光飛跡検出器、粒子飛跡、X線、γ線

蛍光飛跡検出器FNTD (fluorescent nuclear track detectors) では、励起／発光特性 (620/750 nm) を利用し、荷電粒子の飛跡画像を得ることができる。しかし専用リーダーの飛跡読取り効率は、X/γ線の照射が重畳した場合に低下することが分かっている。この原因を明らかにするために、本研究ではX/γ線の照射量による荷電粒子の飛跡画像の変化を測定した。 FNTDに²⁴¹Am-α線を照射した後、光子線 (80 kV X線、¹³⁷Cs-γ線) を追加照射し、得られた画像からα線飛跡およびバックグラウンドの蛍光強度を測定した。その結果、光子線の照射量を増やすことで、バックグラウンドの蛍光強度を不均一に上昇させ、α線飛跡の読取りを妨害していることが分かった。80kV X線照射による蛍光強度の上昇は、照射量 [mGy] で比較して、¹³⁷Cs-γ線の約2倍の感度を示した。