2017 Annual Meeting

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Oral presentation

II. Radiation, Accelerator and Beam Technologies » 202-2 Radiation Physics, Radiation Detection and Measurement

[2D06-09] Gamma-ray measurement, single-event effects

Tue. Mar 28, 2017 10:50 AM - 12:00 PM Room D (16-204 Building No.16)

Chair: Hideki Tomita (Nagoya Univ.)

11:35 AM - 11:50 AM

[2D09] Simulation of low-energy muon-induced single event upsets on a semiconductor memory

*Seiya Manabe1, Yukinobu Watanabe1, Shin-ichiro Abe2 (1. Kyushu Univ., 2. JAEA)

Keywords:Soft error, Single Event Upset, PHITS, muon

数MeV正・負ミューオン照射加速試験のため、単純有感領域モデル及び粒子輸送計算コードPHITSを用いて、設計ルール65 nmのBulkデバイスにおけるミューオン誘起シングルイベントアップセット(SEU)の発生予測シミュレーションを行い、SEUを観察するための適切な照射エネルギーを決定した。また、SEUシミュレーションにおけるエネルギーストラグリングの影響を調査し、エネルギーストラグリングを考慮することにより考慮しない場合と比べ、ミューオンによるSEU数が増加することを確認した。