2017年春の年会

講演情報

一般セッション

II. 放射線工学と加速器・ビーム科学 » 202-2 放射線物理,放射線計測

[2D06-09] ガンマ線計測,シングルイベントエラー

2017年3月28日(火) 10:50 〜 12:00 D会場 (16号館 16-204教室)

座長:富田 英生 (名大)

11:35 〜 11:50

[2D09] 半導体メモリーのミューオン誘起シングルイベントアップセットシミュレーション

*真鍋 征也1、渡辺 幸信1、安部 晋一郎2 (1. 九州大、2. 日本原子力研究開発機構)

キーワード:ソフトエラー、シングルイベントアップセット、PHITS、ミューオン

数MeV正・負ミューオン照射加速試験のため、単純有感領域モデル及び粒子輸送計算コードPHITSを用いて、設計ルール65 nmのBulkデバイスにおけるミューオン誘起シングルイベントアップセット(SEU)の発生予測シミュレーションを行い、SEUを観察するための適切な照射エネルギーを決定した。また、SEUシミュレーションにおけるエネルギーストラグリングの影響を調査し、エネルギーストラグリングを考慮することにより考慮しない場合と比べ、ミューオンによるSEU数が増加することを確認した。