[2B01-04] Accelerator Application for Medical Science and Industry

[2B01] Prediction of cosmic-ray muon-induced soft error rates for semiconductor memory devices

*Seiya Manabe¹, Yukinobu Watanabe¹, Wang Liao², Masanori Hashimoto², Shin-ichiro Abe³ (1. Kyushu Univ., 2. Osaka Univ., 3. JAEA)

Keywords:Single event upset, Soft error rate prediction, PHITS, Cosmic-ray muon

半導体デバイスの信頼性問題の1つにソフトエラーと呼ばれる一過性の誤動作・故障現象がある。近年、宇宙線ミュオンによるソフトエラーの発生が懸念されている。本研究では、デバイスに対する低エネルギー正負ミュオン照射実験結果とPHITSシミュレーションを基に、地上放射線環境におけるミュオン誘起ソフトエラー発生率(Soft error rate : SER)を予測した。負ミュオン原子核捕獲反応から放出される二次イオンの影響により、負ミュオンは正ミュオンに比べSERが著しく高くなり、地上環境においてミュオン誘起SERを正確に見積もる上で捕獲反応を考慮することが重要であることが明らかとなった。