[2N14-17] 光子計測2

[2N15] 後方散乱X 線検査用大型一次元検出器の性能評価

*松江 俊樹¹、渡辺 賢一¹、山崎 淳¹、瓜谷 章¹、吉橋 幸子¹、豊川 弘之²、藤原 健²、萬代 新一³、伊佐 英範³ (1. 名大、2. 産総研、3. BEAMX)

キーワード：検出器製作、x線、イメージング

老朽化する大型インフラの長期保守管理をより効率的に行うために非破壊で内部情報を取得できる技術の開発が期待されている。X線を用いた非破壊検査の手法の中に後方散乱X線撮像法があり、この手法では被写体の片側にX線源と検出器を設置して検査を行うことができる。本研究においてはコリメータ等の重量物を稼働させることなく一次元プロファイルが取得可能なファンビームX線方式を採用している。この検査手法の課題として検査スピードの向上が挙げられている。そこでシンチレータをCWOからCsI:Tl結晶に変更、集光体系をCMOSカメラからフォトダイオードアレイに変更した検出器を製作し、性能を評価した。