[2O12-15] コード・デバイス開発、中性子スペクトル

[2O15] 放射化箔の閾値反応を利用したX線用IP転写法による高エネルギー中性子スペクトルの測定

*藤谷 佑樹¹、加美山 隆¹、佐藤 博隆¹、日塔 光一²、上松 幹夫²、園田 幸夫²、鵜野 浩行³、上本 龍二³、鬼柳 善明⁴ (1. 北大、2. TTSI、3. 住重アテックス、4. 名大)

キーワード：中性子エネルギースペクトル、放射化法、転写法、閾値反応、イメージングプレート

中性子照射場におけるエネルギースペクトルを評価することは各種中性子源のビーム特性を評価する上で重要である。従来から、Ge半導体検出器とアンフォールディング法を用いることで高速中性子領域の中性子エネルギー分布の測定が行われてきた。しかし、アンフォールディング法では熱外中性子領域の中性子スペクトルを測定することは出来ない。そこで、本研究では熱外中性子から高速中性子領域の中性子スペクトルを測定する方法の開発を目的とした。これまで、中性子共鳴吸収反応を利用した金属箔の放射化と、それに起因するβ線を広いダイナミックレンジを有するX線用イメージングプレートに転写する方法により、熱外中性子領域の中性子スペクトルの測定を行ってきた。高速中性子領域に関しては、同位体により閾エネルギーが異なるという特徴に着目し、高速中性子との閾値反応により生じるβ線と、それに対応するIPの輝度値から中性子スペクトルの測定を試みた。